多波长折射率难测？DR-M2阿贝折光仪精准读数

光学玻璃、晶体、液晶材料、树脂与光学薄膜等光学材料，其折射率随波长变化，材料的色散特性（阿贝数）需要多个波长下的折射率数据才能计算。常规折光仪只能在单一波长（通常589nm）下测量，无法满足光学设计与材料研发对色散数据的完整需求；外送测试不仅周期长、费用高，样品流转还可能带来污染和损伤。光学材料企业、科研院所和质检机构亟需一台能覆盖多波长的测量仪器。

ATAGO（爱拓）DR-M2多波长阿贝折光仪正是为此设计的专业仪器。它可在450～1100nm波长范围内（配合干涉滤光片）切换不同波长，测量折射率与阿贝数（νd、νe），并在液晶屏幕上直接数字显示；折射率最小指示0.0001，阿贝数最小指示0.1，测量精度±0.0002（采用500至650nm测试片）。不同波长下的测量范围随波长变化，例如450nm波长下折射率可测1.3278～1.7379，589nm下可测1.3000～1.7100，满足绝大多数光学材料的测量需求。仪器可连接数字打印机（选配件DP-AD(B)）输出数据，便于记录与存档。对于需要测量到1550nm波长的情况，可选择DR-M2/1550或DR-M4型号。

应用上，DR-M2广泛用于光学玻璃与镜片生产企业、晶体材料与液晶显示行业、树脂与光学薄膜研发，以及高校和科研院所的光学实验室。使用建议：测量前用标准折射率液或标准玻璃校验；样品与棱镜接触面保持清洁、无气泡；不同波长测量时按说明书切换对应干涉滤光片并做好记录；测量后及时清洁棱镜与样品台。把多波长折射率测量从"外送等待"变为"实验室一步完成"，DR-M2为光学材料研发和质检提供完整可靠的色散数据。