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产品简介
日本OMRON欧姆龙同轴位移传感器控制器欧姆龙 ZW-5000 是白光共焦光纤同轴位移传感器控制器，搭配专用 ZW-S50 系列测头，依靠同轴白光共焦光学原理，可稳定检测镜面、透明、粗糙各类材质，最大倾斜耐受 ±25°、微米级高精度，测头超小型轻量化、光纤耐弯折适配机械臂移动测量；采样周期 80~1600μs，支持厚度 / 位移同步检测，广泛用于 3C、半导体、光学薄膜产线在线精密尺寸质检。
产品分类
日本OMRON欧姆龙同轴位移传感器控制器
欧姆龙 ZW-5000 是白光共焦光纤同轴位移传感器控制器，搭配专用 ZW-S50 系列测头，依靠同轴白光共焦光学原理，可稳定检测镜面、透明、粗糙各类材质，最大倾斜耐受 ±25°、微米级高精度，测头超小型轻量化、光纤耐弯折适配机械臂移动测量；采样周期 80~1600μs，支持厚度 / 位移同步检测，广泛用于 3C、半导体、光学薄膜产线在线精密尺寸质检。
日本OMRON欧姆龙同轴位移传感器控制器
同轴光路无反射盲区
发射与接收光线wan全同轴，镜面金属、抛光玻璃、高反光塑胶不会产生偏移误测；普通斜射激光传感器倾斜 5° 就会失准，本机可耐受工件 **±25° 大倾角 ** 仍稳定读数。
透明件双层厚度同步检测
白光分光识别上下界面，单次扫描同时输出表面位移 + 透明材质厚度，可测薄膜、盖板玻璃、光学胶层，最小可分辨微米级薄层，解决激光无法穿透透明件的痛点。
全材质兼容检测
镜面金属、哑光粗糙塑胶、硅晶圆、光学薄膜、陶瓷、PCB 油墨层均可稳定测量，不受表面反光率差异干扰。
测量周期：80μs~1600μs 多档可调，适配高速流水线节拍；
线性误差≤±0.8μm，静止分辨率最高 0.005μm，微米级尺寸管控；
内置多点校准 ROM，测头自带出厂校准参数，更换测头无需重新标定。
NPN/PNP 双极性开关量输出，支持 HIGH/PASS/LOW 三段阈值判定；
模拟量 4~20mA / 0~10V 同步输出，直连 PLC 采集；
可选 RS485 通讯，多台组网、上位机数据追溯，支持批量厚度数据存储。
超小型轻量化笔式 / 方型测头
笔式探头外径仅 12mm，单支重量 27g，可嵌入机械臂末端、狭小治具缝隙；分直头 / 弯头两种结构，应对侧孔、凹槽内侧检测。
免前置放大光纤线缆（移动测量专属）
光纤内部无放大电路，可放入拖链往复运动；通过 300 万次 20mm 半径弯折耐久测试，机械臂、往复输送设备长期走线不易断线；最长可搭配 30m 延长光纤，大型设备布线无压力。
多规格测头覆盖不同量程
同控制器可匹配多款 ZW-S50 测头：±0.3mm~±2mm 多段测量行程，光斑 φ9~100μm 可选，微小引脚用超细光斑、大面积工件用宽光斑。
经济型定位：ZW-5000 主打中高精度量产质检，成本低于 7000/8000 系列，满足绝大多数 3C、薄膜常规微米检测需求；
采样速度上限 80μs，ZW-7000 z低 20μs、ZW-8000 精度更高、速度更快，适合超高节拍半导体设备；
温度漂移控制：ZW-5000 温漂约 1.1~1.8μm/℃，适合恒温车间，恒温环境下测量稳定性优异。
3C 电子：手机盖板玻璃厚度、屏幕胶层厚度、金属中框平面度、摄像头模组台阶高度；
光学薄膜行业：PET / 光学胶薄层厚度、透明保护膜双面尺寸检测；
半导体：晶圆载具平整度、芯片封装胶体高度、微小引脚高度差；
精密零部件：陶瓷、抛光金属零件平面度、凹槽深度、镜面工件位移定位。
光纤线缆最小弯曲半径≥20mm，禁止硬折、挤压光纤；
透明工件折射率会轻微影响厚度读数，量产前需用标准样片校准补偿；
测头透镜定期清洁粉尘油污，避免光斑散射降低精度；
多支测头并排使用时，间距保持 50mm 以上，防止光路互相干扰。
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